关于 表面形貌测量 结果1

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此款光泽度仪是参照国际标准ISO 2813和中国国家标准GB/T9754设计制造的光泽度测量仪器.

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三维表面形貌仪的工作原理

可以测量硅、锗单晶（棒料、晶片）电阻率、测定硅外延层、扩散层和离子注入层的方块电阻以及测量导电玻璃（ITO）和其它导电薄膜的方块电阻

材料表面反光度测量仪光泽度计

深圳供应Simco-Ion 表面电阻测量仪（日本） ST-4

Simco-Ion ST-4 表面电阻测量仪（日本）

FJ1210型α β γ表面污染测量仪射线巡检仪FJ1210型α、β、γ表面污染测量仪是一款便携式放射性测量仪表，主要用于放射性表面污染测量，可同时对α、β、γ射线进行测量。