关于 高低温老化测试 结果1

芯片高低温老化测试箱，也称为高低温老化测试箱，高低温试验箱，高低温试验设备，可程式高低温测试箱。

适用于电工、电子、仪器仪表及其它产品、零部件及材料在高低温交变湿热环境下贮存、运输、使用时的适应性试验

主要适用于航天、军工、舰船、电工、电子、医疗器械等整机及零部件的高低温冲击试验。供用户对整机（或部件）、电器、仪器、材料、涂层、镀层等作相应的气候突变试验，以便对试品或试品试验行为作出评价。

QJ211B双面胶高低温测试设备适用于整个材料中进行30KN以内带有高、低温度的拉伸、剥离、撕裂、压缩、弯曲、剪切、刺破、低周疲劳等项目的力学性能试验。

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1.1 空间尺寸：D5150m×W4150m×H2575m (外型尺寸) D5000mm×W4000mm×H2500mm (内空尺寸) 1.2 温度范围：常温到85℃ 1.3 温度波动：≤±1℃；

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