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>硅片内部缺陷测试仪
关于 硅片内部缺陷测试仪 结果1
LK系列接地电阻
测试仪
,测量电气设备
内部
的接地电阻
LK系列接地电阻测试仪是用来测量电气设备内部的接地电阻,它所反映的是电气设备的各处外露可导部分与电气设备的总接地端子之间的(接触)电阻。
上海宙特电气科技有限公司
金牌第
16
年
企业已认证
上海 宝山区
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上海宙特电气科技有限公司