关于 高温四探针测量系统 结果1
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高温四探针测量|方块电阻测量|表面电阻率测量|导体电阻率测量可以测量硅、锗单晶（棒料、晶片）电阻率、测定硅外延层、扩散层和离子注入层的方块电阻以及测量导电玻璃（ITO）和其它导电薄膜的方块电阻
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