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特斯拉计/高斯计纵向探头，纵向探头在使用的时候切不可受力、撞击或受挤压，以免损坏传感器。传感器头部的凹陷圆点标示为传感器的有效位置即为测量面。仪器所显示的数值为测量面所指示点的磁感应强度。

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HP-501型四探针探头是一种专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的方块电阻测试仪配用的四探针测试探头，可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)，金属薄膜……等同类物质的薄层电阻。