安柏AT810采用高能处理器,使用高亮彩色VFD屏幕的智能LCR测试仪器。大规模的贴片技术的运用,使得AT810仅需微型机箱即可容纳。依赖于安柏科技精湛的技术,使其性能亦无可挑剔。内建100Hz、120Hz、1kHz和10kHz测试频率,并且提供0.1V、0.3V和1V测试电平,使其能完全满足一般生产现场的使用。使用安柏科技AT-OS2005微型仪器操作系统,使AT810具有傻瓜式操作界面。内置RS232C接口,兼容SCPI编程语言,很容易与计算机通讯,完成所有仪器功能。内置Handler接口,配合RS232C接口完成复杂的自动控制系统。
AT810LCR测试仪技术规格
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测试参数:L,C,R,Z,D,Q,θ(deg),θ(rad)
测试频率:100Hz,120Hz,1kHz,10kHz
基本准确度:0.1%
测试电平:0.1V,0.3V,1.0V
测试速度:2次/秒,5次/秒,15次/秒
主副参数5位显示
L:0.01μH-9999H
C:0.01pF-9999μF
WR,Z:0.0001Ω-99.99MΩ
D,Q:0.0001-9999
°θ(deg):-90.00°-90.00°
θ(rad):-3.1416–3.1416
Δ%:-9999%-9999%
输出阻抗:30Ω,100Ω
等效电路:串联,并联
六量程自动或手动测试。
AT810LCR测试仪性能特征
高亮度,X清晰四色VFD显示。
校正功能:全量程程开路和短路扫频清零。
X三窗口可同时显示Z,D,Q,θ,ΔABS,Δ%或分选结果。
比较器(分选)功能:内建20组分选记录,P1,P2,P3,NG,AUX五档分选结果显示和输出。
自定义分选结果讯响和音量。
内置RS232C接口和Handler接口。
显示亮度可调。
1000VX强冲击保护