英国牛津CMI涂层测厚仪总代理 [测量工具价格_厂家

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英国牛津CMI涂层测厚仪总代理X势：

1、采用基于相位的电涡流技术，集测量X、价格合理、质量可靠的X势于一体的手持式测厚仪。

英国牛津CMI涂层测厚仪总代理X势：

1、采用基于相位的电涡流技术，集测量X、价格合理、质量可靠的X势于一体的手持式测厚仪。

2、专为金属表面处理者设计。配置的单探头可测量，铁质底上所有金属镀层-即使在极小的、形状特殊的或表面粗糙的样品上都可以进行测量。

3、易于用户控制，并且可以同X线荧光测仪的准确性和精密性媲美。

4、为了让客户能以低成本购买OXFORD-243E免去了对多探头、操作培训和持续保养的需要。

英国牛津CMI涂层测厚仪总代理测量技术：

一般的测试方法，例如一般测厚仪制造商所采用的普通磁感应和涡流方式，由于探头的" 升离效应" 导致的底材效应，和由于测试件形状和结构导致的干扰，都无法达到对金属性镀层厚度的X测量。

牛津仪器将X新的基于相位的电涡流技术应用到OXFORD-243E,使其达到了±3%以内（对比标准片）的准确度和0.3% 以内的X度。

牛津仪器对电涡流技术的X特应用，将底材效应X小化，使得测量精准且不受零件的几何形状影响。

另外，仪器一般不需要在铁质底材上进行校准。

英国牛津CMI涂层测厚仪总代理基本配置包括：

ECP-M探头及拆除指南

Rs232串行电缆

校准用铁上镀锌标准片组

可单X选配SMTP-1(磁感应探头)

英国牛津CMI涂层测厚仪总代理测量范围：

铁上镀层镀层厚度范围探头

Zn 0–38μm ECP-M

Cd′ 0–38μm ECP-M

Cr 0–38μm ECP-M

Cu 0–10μm ECP-M

英国牛津CMI涂层测厚仪总代理技术参数及功能：

准确度：相对标准片±3%

X度：0.3%

分辨率：0.1μm

电涡流：遵循DIN50984, BS5411 Part 3, ISO 2360, ISO 21968草案, ASTM B499,及ASTM E376

存储量：26,500条存储读数

尺寸：14.9 x 7.94 x 3.02 cm

重量：0.26 kg包括电池

单位：英制和公制的自动转换

接口：RS-232串行接口，波特率可调，用于下载至打印机或计算机

显示屏：三位数LCD液晶显示

电池：9伏碱性电池，65小时连续使用

X的ECP-M探头：ECP-M探头专为较难测量的金属覆层设计，此单探头可以测量，铁质底材上几乎所有金属覆层，例如锌、镍、铜、铬和镉。更小的探针为极小的、形状特殊的或表面粗糙的零件提供了便捷的测量。

ECP-M探头规格(mm)

X小凸面半径	1.143
X小凹面半径	1.524
测量高度	101.6
X小测量直径	2.286
底材X小	304.8

OXFORD-243E是一款灵便、易用的仪器，专为金属表面处理者设计。配置的单探头可测量铁质底上所有金属镀层-即使在极小的、形状特殊的或表面粗糙的样品上都可以进行测量。这款测厚仪是紧固件行业应用的理想工具。采用基于相位的电涡流技术。

OXFORD-243E手持式测厚仪易于用户控制，并且可以同X射线荧光测厚仪的准确性和精密性媲美。为了让客户能以低成本购买。OXFORD-243E免去了对多探头、操作培训和持续保养的需要。

牛津涂层测厚仪

牛津仪器公司提供可靠的高一般的测试方法，例如一般测厚仪制造商所采用的普通磁感应和涡流方式，由于探头的"升离效应"导致的底材效

应，和由于测试件形状和结构导致的干扰，都无法达到对金属性镀层厚度的X测量。

牛津仪器将X新的基于相位的电涡流技术应用到OXFORD-243E,使其达到了±3%以内（对比标准片）的准确度和0.3%以内的X度。牛津仪器对电涡流技术的X特应用，将底材效应X小化，使得测量精准且不受零件的几何形状影响。另外，仪器一般不需要在铁质底材上进行校准。ECP-M探头专为较难测量的金属覆层设计，此单探头可以测量

铁质底材上几乎所有金属覆层，例如锌、镍、铜、铬和镉。更小的探

针为极小的、形状特殊的或表面粗糙的零件提供了便捷的测量。

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